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设备失效分析值得信赖「tbk天标检测」打死蝙蝠的后果
2024-03-07 02:08  浏览:43
1分钟前 设备失效分析值得信赖「tbk天标检测」[tbk天标检测c5d2a0d]内容:

电子元器失效分析:服务对象元器件生产商:深度介入产品设计、生产、可靠性试验、售后等阶段,为客户提供改进产品设计和工艺的理论依据。

组装厂:划分责任,提供索赔依据;改进生产工艺;筛选元器件供应商;提高测试技术;改进电路设计。

器件代理商:区分品质责任,提供索赔依据。

整机用户:提供改进操作环境和操作规程的依据,提高产品可靠性,树立企业品牌形象,提高产品竞争力。

分析过的元器件种类:

集成电路、场效应管、二极管、发光二极管、三极管、晶闸管、电阻、电容、电感、继电器、连接器、光耦、晶振等各种有源/无源器件。

电子元器件失效分析

主要失效模式(但不限于)开路、短路、烧毁、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等

常用失效分析技术手段

电测:

连接性测试

电参数测试

功能测试

无损分析技术:

X射线透i视技术

三维透i视技术

反射式扫描声学显微技术(C-SAM)

制样技术:

开封技术(机械开封、化学开封、激光开封)

去钝化层技术(化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层)

微区分析技术(FIB、CP)

电子元器件失效分析

失效定位技术:

显微红外热像技术(热点和温度绘图)

液晶热点检测技术

光发射显微分析技术(EMMI)

表面元素分析:

扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)

俄歇电子能谱分析(AES)

X射线光电子能谱分析(XPS)

二次离子质谱分析(SIMS)

产生效益提供电子元器件设计和工艺改进的依据,指引产品可靠性工作方向;

查明电子元器件失效根本原因,有效提出并实施可靠性改进措施;

提高成品产品成品率及使用可靠性,提升企业核i心竞争力;

明确引起产品失效的责任方,为司i法仲裁提供依据。

高分子材料失效分析

1、产生效益:

1)查明高分子材料失效根本原因,有效提出工艺及产品设计等方面改进意见;

2)提供产品及工艺改进意见,提升产品良率及可靠性,提升产品竞争力;

3)明确产品失效的责任方,为司i法仲裁提供依据。

2、服务对象:

复合材料生产厂商:通过失效分析,查找产品失效产生可能原因的设计、生产、工艺、储存、运输等阶段,深究产品失效机理,为提升产品良率及优化生产工艺方面提供理论依据。

经销商或代理商:及时为其来料品质进行有效管控,为产品品质责任进行公正界定提供依据。

整机用户:跟进并对产品工艺及可靠性提供改进意见,提升产品良率及核i心竞争力。

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